注：本表适用于平板电离室，取扰动因子Ｐｗｇ＝１．００
表２．２ 高能电子束的转换因子ＣE（cＧy／Ｒ）
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初始能量| | | | | | | | | | | | | | | | |
(mev) | 4 | 5 | 6 | 8 | 10 | 12 | 14 | 15 | 16 | 18 | 20 | 23 | 25 | 28 | 30 | 32 | 35
水深(cm) | | | | | | | | | | | | | | | | |
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0.5 |0.91|0.90|0.89|0.88|0.87| | | | | | | | | | | |
0.7 |0.91|0.90|0.89|0.88|0.87| | | | | | | | | | | |
1.0 |0.92|0.91|0.90|0.89|0.87|0.86|0.85|0.85|0.84|0.84|0.83|0.83|0.82|0.82|0.81|0.81|0.81
1.5 |0.90|0.92|0.91|0.89|0.88|0.87|0.86|0.85|0.85|0.84|0.84|0.83|0.82|0.82|0.82|0.81|0.81
2.0 | |0.90|0.92|0.90|0.89|0.87|0.86|0.86|0.85|0.84|0.84|0.83|0.83|0.82|0.82|0.81|0.81
3.0 | | | |0.92|0.90|0.89|0.87|0.87|0.86|0.85|0.84|0.84|0.83|0.82|0.82|0.82|0.81
4.0 | | | | |0.92|0.90|0.89|0.88|0.87|0.86|0.85|0.84|0.84|0.83|0.82|0.82|0.82
5.0 | | | | | | |0.90|0.89|0.89|0.87|0.86|0.85|0.84|0.83|0.83|0.82|0.82
6.0 | | | | | | |0.92|0.91|0.90|0.89|0.87|0.86|0.85|0.84|0.83|0.83|0.82
7.0 | | | | | | | |0.92|0.92|0.90|0.88|0.87|0.86|0.84|0.84|0.83|0.83
8.0 | | | | | | | | | |0.92|0.90|0.88|0.87|0.85|0.84|0.84|0.83
9.0 | | | | | | | | | | |0.92|0.89|0.88|0.86|0.85|0.84|0.84
10.0 | | | | | | | | | | | |0.91|0.89|0.87|0.86|0.85|0.84
11.0 | | | | | | | | | | | |0.92|0.91|0.88|0.87|0.86|0.85
12.0 | | | | | | | | | | | | |0.92|0.90|0.88|0.87|0.86
13.0 | | | | | | | | | | | | | |0.92|0.90|0.88|0.86
14.0 | | | | | | | | | | | | | | |0.92|0.90|0.87
15.0 | | | | | | | | | | | | | | | |0.91|0.89
16.0 | | | | | | | | | | | | | | | | |0.90
17.0 | | | | | | | | | | | | | | | | |0.92
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注：本表适用于轴和电子束入射方向垂直的圆柱形电离室，电离室内径约６ｍｍ。
９．如果测得空气中（ＳＳＤ＋ｄ）处的照射量为Ｘ（ｄ），可按下式转换为水模体中水深ｄ处的吸收剂量Ｄ（ｄ）：
Ｄ（ｄ）－Ｘ（ｄ）·Ｆ·ＴＡＲ （ｖｉｉ）
式中Ｆ同式（ｉ）；ＴＡＲ为组织空气比，见附表。
四、吸收剂量的定期测量
对Ｘ线机，１个月测量１次；加速器至少每周测
５０ ６０１次； Ｃｏ治疗机可３个月测１次，但每月要进行Ｃｏ衰变修正。
对于性能差的机器和新安装的机器或其他原因引起机器性能变化，应酌情增加测量次数，以保证临床剂量的准确可靠。
第三章 射线质的测定
射线质的测定是临床剂量学的一个重要内容。测量方法如下：
一、４００ＫＶ以下Ｘ射线半值层（ＨＶＬ）的测定：
Ｘ射线能谱是连续的，对于治疗来讲，我们并不需要了解能谱的分布，临床上关心的是射线的穿透能力，一般用半值层来表示。所谓半值层是使原射线量减弱一半所需要的某种吸收材料的厚度。半值层的值越大，射线的穿透本领越强。
根据半值层的定义，我们可以用实验方法来测定Ｘ射线的半值层。测量时，将不同厚度的吸收片（铝片或铜片）一片一片的叠加，同时测出射线穿透不同厚度的吸收片后的射线量，然后作出厚度对射线量的坐标曲线，最后从曲线上查出使原射线量减少一半的吸收片厚度，此厚度即为被测Ｘ射线的半值层。或用两块同质楔形吸收板，用电动或手动的方法使它们作相对运动，以逐渐增加厚度。测定半值层应注意以下几点：
１．测定的半值层必须针对直接用于治疗的Ｘ射线，也就是说，要明确所使用的管电压滤过板条件。尽管电压、电流相同，滤过板不同，半值层也不一样，例如某种２００ＫＶＸ线机未滤过的Ｘ射线，半值层是０．３５ｍｍＣｕ，经过１ｍｍＣｕ滤过，半值层提高到１．３ｍｍＣｕ。
２．相同的物理和几何的测量条件，不加吸收片时应相同，即管电压、电流、滤过板、电离室的位置均应恒定，以保证半值层测量准确。
３．测量时的几何条件要适当，防止散射线的影响。实验结果表明，附加吸收板位置不恰当而产生的散射线的影响会使测量的半值层得出错误的结果。因此电离室离开吸收片的距离与吸收片离射线源（Ｓ）的距离大约相等，一般取５０ｃｍ。电离室周围不应有产生散射线的物体存在。照射野的面积也应尽量小，以能包围测量电离室的敏感体积为限。Ｘ射线机的半值层应定期每月或每两个月测量１次。机器安装或换Ｘ线管时，更应该重测半值层。选择的治疗条件，应使所测半值层尽量与深度量表的半值层一致，以便使用深度量表。
表４： 高能Ｘ线能量与水ＨＶＤ的关系
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射线能量（ＭＶ）｜最大剂量深度（ｃｍ）｜５０％剂量深度（ｃｍ）
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４ ｜ １ ｜ １３．８
６ ｜ １．５ ｜ １５．５
８ ｜ ２ ｜ １７．１
１０ ｜ ２．５ ｜ １８．１
１２ ｜ ２．５ ｜ １８．８
１５ ｜ ３ ｜ ２０．０
１８ ｜ ３ ｜ ２１．３
２０ ｜ ３ ｜ ２１．８
２２ ｜ ４ ｜ ２２．７
２４ ｜ ４ ｜ ２３．５
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注：该表使用的测量条件是ＳＳＤ＝１００ｃｍ，Ａ＝１０×１０ｃｍ
二、高能Ｘ线能量的确定：
通常采用最大剂量点处剂量一半的深度（ＨＶＤ）水深法，即用水模体中射线中心轴上５０％的剂量深度来确定Ｘ射线的质。高能Ｘ射线能量与水ＨＶＤ的关系见表４。
日常射线能量的监测用一个简易监测能量体模进行，体模中电离室位置放在该能量最大剂量点处，反转后正适合该能量５０％深度剂量值的位置。每次校正如果测量均为５０％，就说明能量没有变化，或者用其能量监测体模对每次测量值进行对比，如果误差均在５％以内，说明能量变化在其允许范围内，如超过５％变化应对机器进行调整。
三、高能电子束能量的测定：
测量方法：用电离室测出不同治疗距离上１０×１０ｃｍ或１２×１２ｃｍ射线中心轴上百分深度剂量曲线（图２），从曲线上最大斜率点切线的延长线与曲线尾部切线的交点所对应的深度Ｒｐ为电子在水中的实际射程，并将Ｒｐ代入下式可估算出入射的电子束能量。
Ｒp ＋０．３８
Ｅ0 ＝－－－－－－－
０．５２
或 Ｒp ＝０．５２Ｅ0 －０．３８（ｃｍ）
式中Ｅ0 为入射的电子能量（ＭｅＶ），Ｒｐ为电子在水中的射程（ｃｍ）。
